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研磨斷面觀察是在對含有車載用途的電子部品和元件進行可靠性試驗后，實施良品或不良品解析以及構(gòu)造解析的重要技術(shù)。為了使用此技術(shù)，需要以必要的精度，一邊控制對斷面產(chǎn)生的應(yīng)力的可能最小限度，將想要觀察的部位制作成試料。
最基本的試料作成工序如下所示：
1、由于裁切出一部分試料，將樣品全體用樹脂包埋；
2、樹脂硬化后，從樣品上切下需要的試料部位；
3、裁切后的試料，按照研磨面的方向擺放整齊，再次用樹脂包埋；
4、樹脂硬化后，通過手動研磨，替換使用由粗到細(xì)的型號研磨紙，削出希望的部位；
5、使用自動研磨機將研磨材料的砥粒研磨得更加精細(xì)使研磨表面呈現(xiàn)鏡面狀態(tài)。
此工法由于在⑤使用了自動研磨機，所以試料尺寸需要能夠包含φ25 mm、φ30 mm及φ40 mm的圓柱中的任意一個尺寸，而且，由于自動研磨機可以一次性處理同一條件的多個試料，因此可以在短時間內(nèi)高精度地完成研磨。
上述圓柱無法包含試料時，包括完成工序在內(nèi)全部進行手動研磨，與使用自動研磨機相比，需要更長的加工時間。另外，如果是單個試料，上述圓柱可以包含的情況下，不需要對試料全體進行樹脂包埋，可以從工序③開始，由于省略了樹脂包埋?硬化處理這兩道工序，因此可以縮短加工時間，然后，對于荷重會影響試料表面研磨工序的、用于表面分析的試料（例如EBSD用、脆弱的材料），在上述①～⑤的工序中，在手動研磨工序中使用的研磨紙的型號，需要在前面階段使用細(xì)的型號。
闊智科技IC芯片開封的封裝類型為普通封裝 COB、BGA、QFP、 QFN、SOT、TO、 DIP、BGA、COB 陶瓷、金屬等其它特殊封裝，并提供芯片失效分析分析，化學(xué)開封，激光開封。
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退金（褪金）是用一種特殊的溶劑來退除電鍍金層或化學(xué)沉金的。一般要求無毒無害退金劑，無重金屬，無氰化物，專用于金鍍層的退除。退金速度快，根據(jù)鍍層厚度一般2-30s即可退掉，退金過
可以對機械研磨難以加工的高分子和金屬，復(fù)合材料等各種試料進行無應(yīng)力加工，在無變形、不破壞試料的結(jié)晶構(gòu)造的情況下，可以對積層形狀、結(jié)晶狀態(tài)、異物斷面進行解析。
結(jié)構(gòu)分析方法有金相切片，F(xiàn)IB切割及離子研磨，CP研磨等方式，通過金相顯微鏡，SEM，TEM進行放大觀察金相結(jié)構(gòu)。
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