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快速(高速)推球測(cè)試方法及實(shí)戰(zhàn)案例
【一】前言
隨著焊盤尺寸越來(lái)越小,盤與基材焊接強(qiáng)度日趨敏感,客戶針對(duì)焊盤焊接強(qiáng)度除保證垂直方向外,對(duì)于水平方向的推力也提出新的要求,作為CNAS/CMA認(rèn)證第三方測(cè)試機(jī)構(gòu),平臺(tái)新購(gòu)置了高速焊接強(qiáng)度測(cè)試儀,針對(duì)水平高速推力開(kāi)展測(cè)試,文章簡(jiǎn)單介紹推力測(cè)試的要求、方法,并通過(guò)已測(cè)的一些數(shù)據(jù)和圖形來(lái)分析影響測(cè)試數(shù)據(jù)的一些因素,以提供推力測(cè)試方面的一些基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。
【二】高速推球測(cè)試對(duì)品質(zhì)監(jiān)控的意義
對(duì)于傳統(tǒng)焊盤焊接效果的測(cè)試,親錫性是采用可焊性的測(cè)試方法來(lái)實(shí)現(xiàn),焊接強(qiáng)度是采用垂直方向的焊盤抗拉脫強(qiáng)度來(lái)實(shí)現(xiàn)。但在實(shí)際制造和使用中,對(duì) 焊點(diǎn)的沖擊絕不僅限于此,以下我們從不同階段
進(jìn)行簡(jiǎn)單闡述:
◆裝配階段: PCB板與元件進(jìn)行結(jié)合,由于材質(zhì)不同導(dǎo)致各自形變不同,因此焊點(diǎn)會(huì)受不同方向形變產(chǎn)生不同力的沖擊,其中有材料熱膨脹產(chǎn)生的垂直應(yīng)力,有尺寸漲縮產(chǎn)生的水平剪切力、焊料冷熱漲縮產(chǎn)生的內(nèi)生應(yīng)力等,都將直接對(duì)焊點(diǎn)造成不可避免的沖擊。
◆測(cè)試階段: 裝配廠家常常會(huì)用各種苛刻方法對(duì)焊點(diǎn)強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試,如采用推桿施于一定推力對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行橫向推力測(cè)試,通過(guò)跌落實(shí)驗(yàn)對(duì)焊點(diǎn)強(qiáng)度進(jìn)行不同方向的瞬間機(jī)械沖力測(cè)試,更有甚者通過(guò)滾筒對(duì)板件進(jìn)行更為復(fù)雜的受力測(cè)試,這些嚴(yán)苛各異的測(cè)試項(xiàng)目也將對(duì)焊點(diǎn)造成額外的沖擊。
◆使用階段: 使用階段的受力則更加不可確定,不同環(huán)境、不同產(chǎn)品、不同使用者,更讓具體使用場(chǎng)景更難以預(yù)測(cè),如手機(jī)數(shù)據(jù)線的使用,線與接口處的連接點(diǎn)便需承受來(lái)自不同方向的扭曲、不同力度的拉扯,諸如此類不確定的因素均將對(duì)焊點(diǎn)造成意想不到的沖擊。
因此對(duì)于PCB廠家,如何針對(duì)后續(xù)苛刻的客戶測(cè)試和產(chǎn)品使用,制定更加全面的測(cè)試方法便成為焊點(diǎn)結(jié)合力評(píng)估的重中之重。單純的垂直方向拉力測(cè)試已無(wú)法滿足品質(zhì)監(jiān)控的需求,此時(shí)高速推球測(cè)試從另一方向針對(duì)橫向剪切力進(jìn)行了補(bǔ)充測(cè)試,完善了焊點(diǎn)結(jié)合力評(píng)估方法。
【三】 高速推球測(cè)試要求
2.1 材料及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
錫球尺寸:通過(guò)不同錫球尺寸對(duì)比,選取0.25mm直徑的錫球:助焊劑:選擇客戶指定的助焊膏進(jìn)行測(cè)試:
◆推刀推球速度要求:1000mm/s
◆推刀高度:25 um
◆推力要求:>250g
2.2高速焊接強(qiáng)度測(cè)試儀簡(jiǎn)介
DAGE 4 000HS高速焊接強(qiáng)度測(cè)試儀是基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Nordson DAGE 4000 推拉力實(shí)驗(yàn)機(jī)平臺(tái)。設(shè)備擁有超大力量范圍的傳感器、無(wú)磨損真空抱緊、JAW 等專業(yè)技術(shù),實(shí)際測(cè)試中是由電機(jī)驅(qū)動(dòng)的 XY平臺(tái)馬達(dá)將剪切刀以接近4000mm的速度撞擊焊點(diǎn),并且形成受力-位移圖以及常規(guī)峰值受力測(cè)量以外的能量測(cè)量,設(shè)備部分參數(shù)如下:
2.3 測(cè)試步驟
選擇測(cè)試位置及方向-->測(cè)試位置涂助焊劑-->植錫球-->回流焊焊接-->快速推球測(cè)試
【四】 快速(高速)推球測(cè)試實(shí)戰(zhàn)案例
4.1 某客戶測(cè)試方法及判斷要求
◆測(cè)試方法及要求:將待測(cè)試樣品選取套片 BGA 區(qū)域裁切成 30mm*20mm 的測(cè)試樣品. 任選樣品下 5 個(gè) BGA PAD,選擇大于 PAD 0.05mm 大小的錫球進(jìn)行植錫,以 1000mm/S 的速度 25μm 的剪切高度進(jìn)行推球及拉球測(cè)試。如發(fā)生推球時(shí)發(fā)生干擾;斷裂面在錫球但高度高于 25μm;斷裂位置為錫球底部;均判定為失效模式,需重新取樣進(jìn)行測(cè)試。
◆判定要求:當(dāng)斷裂面在錫球且低于 25um 或斷裂面在 PCB PAD 底部,且 NSMD PAD 推力>300g 以上,SMD PAD 推力>250g 以上時(shí)為合格,斷裂面在 IMC 層為不合格。
4.2 測(cè)試結(jié)果
帶你了解什么是CNAS體系,什么是CMA認(rèn)證,第三方檢測(cè)報(bào)告,CANS和CMA區(qū)別等。
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