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信號損耗測試(Detal-L/SET2DIL)

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簡介

印制電路板(PCB)信號完整性是近年來熱議的一個(gè)話題,國內(nèi)已有很多的研究報(bào)道對PCB信號完整性的影響因素進(jìn)行分析,但對信號損耗的測試技術(shù)的現(xiàn)狀介紹較為少見。

PCB傳輸線信號損耗來源為材料的導(dǎo)體損耗和介質(zhì)損耗,同時(shí)也受到銅箔電阻、銅箔粗糙度、輻射損耗、阻抗不匹配、串?dāng)_等因素影響。在供應(yīng)鏈上,覆銅板(CCL)廠家與PCB快件廠的驗(yàn)收指標(biāo)采用介電常數(shù)和介質(zhì)損耗;而PCB快件廠與終端之間的指標(biāo)通常采用阻抗和插入損耗。

針對高速PCB設(shè)計(jì)和使用,如何快速、有效地測量PCB傳輸線信號損耗,對于PCB設(shè)計(jì)參數(shù)的設(shè)定和仿真調(diào)試和生產(chǎn)過程的控制具有重要意義。 

2
介紹

2.1、 VNA測試

VNA(vector network analyzer,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀)的信號源在測試時(shí)產(chǎn)生一個(gè)連續(xù)掃頻的正弦波,以此激勵(lì)被測物(DUT,device under test),之后測量DUT的反射信號和傳輸信號。VNA把被測物(無論是一條線、一個(gè)面或信號網(wǎng)絡(luò))當(dāng)做二端口網(wǎng)絡(luò),由于其激勵(lì)信號是掃頻信號,在每一個(gè)頻點(diǎn)均可測得到被測端口的頻率相應(yīng),VNA通過分析這些激勵(lì)信號和響應(yīng)信號,計(jì)算出被測端口S參數(shù),再通過這些參數(shù)得到我們需要的量化參數(shù)值。


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對于一個(gè)測試頻率范圍為20GHz的VNA,可以測試被測物從0到20GHz中間任何頻率點(diǎn)上的響應(yīng)特性。

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                         VNA中可觀測到的端口特性

TRL校準(zhǔn)理念在于將線路的兩段各取一部分作為中間剩余部分線路量測的探針。

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                                TRL校準(zhǔn)圖形


2.2、SET2DIL測試

Single end trace to drive differential loss, 利用單端線路測量差分損耗的方法。此測試簡化量測,從而使傳統(tǒng)的差分四端口測試變?yōu)楹唵蔚膯味藴y試,并將此測試方法用于批量板的監(jiān)控。



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                        傳統(tǒng)差分測試需要四個(gè)端口同時(shí)量測

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設(shè)備


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